Buscar por Autor Kleinke, M.
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Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
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2010 | A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiOx films prepared by ion beam deposition | <div class="autor_fcen" id="5357">Marchi, M.C.</div>; <div class="autor_fcen" id="135">Bilmes, S.A.</div>; Ribeiro, C.T.M.; Ochoa, E.A.; Kleinke, M.; <div class="autor_fcen" id="213">Alvarez, F.</div> | Facultad de Ciencias Exactas y Naturales de la UBA |