Buscar por Autor Tararan, Ronald
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Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
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- | A polaronic stacking fault defect model for CaCu3Ti4O12 material: an approach for the origin of the huge dielectric constant and semiconducting coexistent features | Bueno, Paulo R.; Tararan, Ronald; Parra, Rodrigo; Joanni, Ednan; Ramírez, Miguel A.; Ribeiro, Willian C.; Longo, Elson; Varela, José A. | - |