Buscar por Autor Meyer, Bernd
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Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
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nov-2016 | XDS: a flexible beamline for X-ray diffraction and spectroscopy at the Brazilian synchrotron | Lima, Frederico Alves; Saleta, Martin Eduardo; Pagliuca, Rafael José dos Santos; Eleotério, Marcos Antônio; Reis, Ricardo D.; Fonseca Júnior, Jairo; Meyer, Bernd; Bittar, Eduardo Matzenbacher; Souza Neto, Narcizo Marques; Granado, Eduardo | - |