1. RODNA
  2. CONICET
  3. CONICET
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.creatorAirabella, Andres Miguel-
dc.creatorOggier, German Gustavo-
dc.creatorPiris Botalla, Laureano Enrique-
dc.creatorFalco, Cristian Ariel-
dc.creatorGarcía, Guillermo Oscar-
dc.date2018-11-22T21:35:21Z-
dc.date2018-11-22T21:35:21Z-
dc.date2015-03-
dc.date2018-09-04T16:27:18Z-
dc.date.accessioned2019-04-29T15:40:43Z-
dc.date.available2019-04-29T15:40:43Z-
dc.date.issued2018-11-22T21:35:21Z-
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dc.date.issued2015-03-
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dc.identifierAirabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falco, Cristian Ariel; García, Guillermo Oscar; Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados; Editores; Ingeniería Eléctrica; 296; 3-2015; 96-104-
dc.identifier1667-5169-
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11336/64957-
dc.identifierCONICET Digital-
dc.identifierCONICET-
dc.identifier.urihttp://rodna.bn.gov.ar:8080/jspui/handle/bnmm/299291-
dc.descriptionEn este trabajo se analiza la operación de un convertidor CC-CC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.-
dc.descriptionFil: Airabella, Andres Miguel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina-
dc.descriptionFil: Oggier, German Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina-
dc.descriptionFil: Piris Botalla, Laureano Enrique. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina-
dc.descriptionFil: Falco, Cristian Ariel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina-
dc.descriptionFil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina-
dc.formatapplication/pdf-
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dc.languagespa-
dc.publisherEditores-
dc.relationinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.editores-srl.com.ar/revistas/ie/296/gea_estrategia_de_deteccion_de_fallas_de_circuito_abierto-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccess-
dc.rightshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/-
dc.sourcereponame:CONICET Digital (CONICET)-
dc.sourceinstname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas-
dc.sourceinstacron:CONICET-
dc.subjectCONVERTIDORES CC-CC-
dc.subjectTOLERANCIA A FALLAS-
dc.subjectDIAGNÓSTICO DE FALLAS-
dc.subjectELECTRÓNICA DE POTENCIA-
dc.subjectPUENTES DUALES ACTIVOS-
dc.subjectIngeniería de Sistemas y Comunicaciones-
dc.subjectIngeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información-
dc.subjectINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS-
dc.titleEstrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados-
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article-
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion-
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/articulo-
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